半導体部品業界の照明撮像事例
- 電子部品(チップ部品)の電極検査
- ボタン型電池のキズ・外観検査
- 基板上の文字検査
- エンボステープ内電子部品の印字検査
- 電球の口金のハンダ部分検査
- パソコン用メモリの外観検査
- 電子部品(水晶振動子)の外観検査
- コネクタピンの外観検査
- 電子部品(レギュレータ)の外観検査
- 電子部品(コンデンサ)の文字検査
- ボタン電池の文字検査
- プリント基板のスルーホール検査
- ボタン電池の外観検査
- 電子部品(コンデンサ)の寸法・形状検査
- イメージセンサー基板の接着部検査
- 半導体ウエハーのパターン検査
電子部品(チップ部品)の電極検査


バー照明では、電極部分を撮像することは困難。

リング照明を使うことで、
電極部分を均一に照射して撮像することが可能。

内容 | 外観検査 |
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ワーク | 電子部品 |
提案前 | LEDバー照明 |
提案後 | LDR2-32RD2 |
結果 | 均一度向上 |
撮像に利用した照明
事例URL
ボタン型電池のキズ・外観検査


ボタン型電池の外形や表面のキズを撮像することは困難。

外形や表面のキズを明確に撮像することが可能。

内容 | 外観検査 |
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ワーク | ボタン型電池 |
提案前 | LEDリング照明 |
提案後 | LDR-75RD2-LA1 |
結果 | キズを抽出 |
撮像に利用した照明
事例URL
基板上の文字検査
エンボステープ内電子部品の印字検査


表面の反射の影響で、安定した検査は困難。

表面の反射をおさえて、印字を撮像することが可能。

内容 | 印字検査 |
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ワーク | エンボステープ内の電子部品 |
提案前 | LEDリング照明 |
提案後 | HPR2-75RD |
結果 | 均一度向上 |
撮像に利用した照明
事例URL
電球の口金のハンダ部分検査
パソコン用メモリの外観検査


メモリーの外観を均一に撮像することは困難。

メモリーの外観を均一に撮像することが可能。

内容 | 外観検査 |
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ワーク | パソコン用メモリ |
提案前 | FPQ2-120SW |
提案後 | FPQ3-100X50SW |
結果 | 均一度向上 |
撮像に利用した照明
事例URL
電子部品(水晶振動子)の外観検査


ローアングルからの照射で、刻印文字を観察可能。

ローアングルと上部からの照射で、
文字と汚れを同時に観察可能。

内容 | 外観検査 |
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ワーク | 水晶振動子 |
提案前 | 反射板なし |
提案後 | 反射板あり |
結果 | 均一度向上 |
撮像に利用した照明
事例URL
コネクタピンの外観検査
電子部品(レギュレータ)の外観撮像
電子部品(コンデンサ)の文字検査


表面のヘアラインの影響で、印字の読み取りは困難。

ヘアラインの影響を抑え、印字を読み取ることが可能。

内容 | 外観検査 |
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ワーク | 電子部品(コンデンサ) |
提案前 | LED拡散光リング照明 |
提案後 | LFXV-25RD |
結果 | 均一度向上 |
撮像に利用した照明
事例URL
ボタン電池の文字検査
プリント基板のスルーホール検査
ボタン電池の外観検査
電子部品(コンデンサ)の寸法・形状検査
イメージセンサー基板の接着部検査
半導体ウエハーのパターン検査
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